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饱和PCT老化试验箱 APCT-S系列
简要描述:
PCT老化试验箱(又称PCT高压加速老化试验机)可模拟半导体、PCB、IC、LCD等试品PCT测试所需严苛温度、湿度及高气压综合环境以验证产品封装耐压性气密性。
主要性能:
型号:APCT-S系列  标称内容积:标箱或定制
  
  
  
突出特点:
不锈钢圆型内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计;采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗;蒸发器采用水浸查漏方法,查漏彻底,确保设备稳定运行;搭载进口控制系统微电脑 P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度,带有水位不足时提供警示功能;精密设计,气密性良好,耗水量少
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        PCT高压加速老化试验箱(又名PCT老化试验箱)是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,主要是模拟气候环境测试产品在不同温度、湿度及压力下密封性、气密性的试验设备。其广泛应用于电子器件、汽车零配件、塑胶、线路板、IC、LCD、LED、磁铁等行业。

        PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
     
    依据试验湿度饱和度可划分为:饱和高压加速老化试验箱非饱和高压加速老化试验箱
     
    非饱和高压加速老化试验机试验标准及方法:
    MS IEC 60068-2-66-2008  环境试验 第2-66部分-试验方法 试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽)
     
    PCT高压加速老化试验箱应用领域:
    航空航天  国防军工  汽车机电  信息通讯  能源材料  行业定制
     
    星拓PCT加速老化试验箱APCT-S
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